SunScan 林地植物作物冠层分析仪
北京哈维斯廷科技有限公司 SunScan 林地植物作物冠层分析仪:通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。
Wescor渗透压仪5600/5600XR
所测样品无需特殊处理,高粘度、悬浮颗粒多或多种溶剂混合的样品对实验结果无干扰。特殊的仪器原理,不需要对样品冷冻或加热,不影响实验数据。特别适合含生物活性样品的测量。
hemidig 数字植物冠层分析系统
HemiView 通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息,HemiView 能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布。
PAM-OS便携式脉冲调制叶绿素荧光仪
1931年,Hans Kautsky在实验中发现了暗适应叶片暴露在光照条件下由强到弱(荧光淬灭)的荧光动态过程(后来被称作“Kautsky effect”),而且这一荧光动态过程与二氧化碳的同化呈负相关。Hans Kautsky把这一发现写成一页纸的报告(题目为“二氧化碳同化新实验”)发表,